SPC:

一. 统计过程的基本概念及理论基础

二. 计量型数据的控制图与计数型数据的控制图
1. X-R 管制图（均值-极差控制图）

2.X-S 管制图（均值-标准差控制图）；

3. 中位数极差图；

4. 单值-移动极差图；

5. 不合格品率的控制图于计数型数据的控制图-P 图；

6. 不合格品数的控制图-NP 图；

7. 不合格数的控制图-C 图；

8.单位不合格数控制图-U 图；

三. 过程能力与过程性能研究

 四. SPC的发展与短期控制图

 五. 案例分析与现场练习

 六. 测试

MSA:

  一、MSA 的重要性

  二.测量系统分析的对象

  三.测量系统误差来源

  四.测量基础术语

  五.测量系统统计特性

  六.理想的测量系统

  七.测量系统应有的特性

  八.测量系统研究准备

  九.计量型分析:    

  十.稳定性分析

  十一.偏倚分析

  十二.线性分析指南

  十三.重复性和再现性分析指南

  十四.计数型分析:

  十五.风险评估法

  十六.软件演示与案例练习

  十七.测试