n 第一部分、APQP(产品质量先期策划)

一、APQP概述

l 1、什么是APQP

l 2、为什么要进行APQP

l 3、何时进行APQP

l 4、APQP的职责范围（ APQP与设计责任矩阵）

l 5、APQP的基本原则

二、产品质量策划五个阶段

l 计划和确定项目

l 产品设计和开发

l 过程设计和开发

l 产品和过程确认

l 反馈、评定和纠正措施

l 案例分析

n 第二部分、PPAP(生产件批准程序)

l 一、 PPAP的适用性

l 二、 PPAP要求提交的十九项资料和标准

l 三、 PPAP的提交时机和通知要求

l 四、 PPAP不需要提交的情况

l 五、 PPAP的提交等级

l 六、 PPAP的批准

n 第三部分、AIAG-VDA 第一版（FMEA第五版）（失效模式及后果分析）

n 一、FMEA介绍

l 1）AIAG-VDA FMEA 第一版 背景及主要变化点

l 2）FMEA目的和描述

l 3）FMEA的开发过程及里程碑

l 4）如何与公司现状进行整合

l 5）DFMEA和PFMEA

l 6）FMEA策划

n 二、DFMEA的开发六步法

l 1）定义范围

l 2）结构分析

l 3）功能分析

l 4）失效分析

l 5）风险分析

l 6）优化

l 结果文件化；答疑和练习

n 三、PFMEA的开发六步法

l 定义范围

l 结构分析

l 功能分析

l 失效分析

l 风险分析

l 优化

l 结果文件化；答疑和练习

n 第四部分：SPC(统计过程控制)

一、SPC起源及其用途

l 1.1 什么是SPC

l 1.2 SPC的起源

l 1.3 SPC的发展历程

l 1.4 SPC的作用和特点

l 1.5 SPC的焦点

l 1.6 SPC控制图流程

l 1.7 什么是控制图

二、SPC相关的基本统计概念

l 2.1 过程的波动（普通原因&特殊原因）

l 2.2 正态分布与控制图

l 2.3 两类错误

l 2.4 规格界限与控制界限

l 2.5 控制图的种类

l 2.6 控制图的选择

三、计量型SPC控制图（均值极差图）  

l 均值极差图的定义和适用范围

l 均值极差图的取样方法

l 均值极差图的计算中心线

l 均值极差图的计算控制限

l 均值极差图的建立步骤

l 均值极差图的案例分析

l 均值和标准差控制图

l 中位数和极差控制图

l 单值移动极差控制图

四、计数型SPC控制图（不良率图）  

l 不良率图的概念

l 不良率图的计算控制限

l 不良率图的案例分析

l NP控制图

l C控制图

l U控制图

五、SPC判定

l 过程稳定的判定

l 过程异常的判定

l 过程异常的改善

六、过程能力研究

l Ca与Cp

l Cpk与Ppk

n 第五部分、MSA(测量系统分析)

一、MSA概述

l 1.1 什么是测量及测量系统

l 1.2 为什么要进行测量系统分析

l 1.3 测量相关有哪些概念

二、测量系统的方法

l 2.1 测量系统分析的阶段

l 2.2 测量系统分析的准备

l 2.3 测量系统执行的注意点

l 2.4 测量系统执行的时机

l 2.5 测量系统分析的方法（计量型GR&R法  计数型 风险分析法）